saltar al contingut principal
Cercar
URV

Microscopi electrònic de rastreig ambiental (ESEM)


Descripció tècnica

Aquest microscopi utilitza un feix d’electrons per formar la imatge. Es caracteritza per l’alta resolució (3nm) i la gran profunditat de camp que permet enfocar diferents alçades de la mostra al mateix temps. Degut a la interacció electró-matèria, es produeixen diferents senyals que permeten obtenir diferents resultats: imatge topogràfica, imatge de contrast per número atòmic, espectrometria de dispersió d’energia de raigs-x, etc.

Amb els tres modes de pressió, que van des de 10-5 mbar fins a 26 mbar (2600 Pa), es poden estudiar mostres conductores, no conductores i materials incompatibles amb el buit elevat, amb una resolució de 3nm en tot els tres rangs de pressió. Juntament amb la platina Peltier de -20ºC a 50ºC permet fer estudis d’humitat. També està equipat amb un forna fins a 1500ºC, la qual cosa permet fer estudis de rampes de temperatura, amb possibilitat de connexió de diferents gasos. Amb el detector Wet STEM es poden mirar reixetes del TEM que necessitin mantenir la humitat en la mostra sense necessitat de fixació, deshidratació ni inclusió.

Prestacions

  • Observació morfològica i topogràfica de tot tipus de mostres amb resolució de 3nm.
  • Obtenció d'imatges de composició (contrast per número atòmic).
  • Espectrometria de dispersió d'energia de raigs-X (a partir del bor). Permet conèixer, en un volum tan petit com un micròmetre cúbic, els elements químics presents en les diferents parts d'una mostra.

  • Anàlisi semi-quantitatiu amb un error del 2 %; mapes de distribució d'elements.

  • Estudi de materials sotmesos a escalfament i refredament. Experiments dinàmics com cicles d'humitat, experiments amb temperatura (de -20 a 1.500 ºC), etc.

  • Observació en mode wet-STEM

  • Imatges per corrents absorbides i induïdes (EBIC)

Aplicacions

  • Anàlisi de partícules

  • Estructura d'aliments

  • Contaminants

  • Processos de corrosió

  • Caracterització de recobriments i d'estructures metal·lúrgiques i ceràmiques

  • Capes pictòriques

  • Microelectrònica

  • Aplicacions forenses

  • Controls de qualitat

  • Aplicacions biomèdiques: estudi de cultius cel·lulars, teixits i òrgans; etc.

Equipament

Microscòpia electrònica de rastreig de pressió variable (ESEM) amb microanàlisi de raigs-X. Marca FEI Company, model Quanta 600

Amb el suport de: