saltar al contingut principal
Cercar
URV

Difracció de raigs-X

Descripció

La difracció de raigs-X és una tècnica no destructiva per identificar i quantificar les fases cristal·lines presents en la matèria sòlida. Els raigs-X difracten en els materials cristal·lins i produeixen difractogrames característics que actuen com a empremtes digitals de cada fase cristal·lina. El difractograma reflecteix l'estructura cristal·lina del material (disposició ordenada dels àtoms en l'espai 3D). El difractograma s'interpreta amb l'ajuda d'una base de dades.

La tècnica s'utilitza per obtenir informació de l'estructura, la composició i l'estat dels materials policristal·lins. A banda de la identificació i quantificació de les fases cristal·lines, també s'utilitza en estudis amb temperatura variable, mesures dels paràmetres de cel·la, grau de cristal·linitat, càlcul d'esforços residuals, mosaicitat, estudis de textures i ajust d'estructures.

CARACTERÍSTIQUES

 

Bruker D8 Discover

  • Detector d'àrea HI-STAR posicionable de 90 a 300 mm de la mostra
  • Imatges 2D de 2048x2048 píxels
  • Mirall Göbel per òptica paral·lela
  • Cambra d'He pel detector d'àrea a angles baixos
  • Sistema de vídeo/làser per posicionar la mostra
  • ¼ Cuna d'Euler (0≤χ≤110°, 0≤φ≤360°) motoritzat en XYZ
  • Colimadors per microdifracció de 50, 100 i 500 μm
  • Cambra MRI (-192 a 1300°) amb sistema de buit o gas inhert
  • Detector de centelleig
  • Portamostres HUBER per a capil·lars amb rotació

Bruker D8-ADVANCE

  • Carregador automàtic de 9 mostres amb rotació/transmissió
  • Òptica divergent/paral·lela motoritzada
  • Detector 1D LYNXEYE-XE-T
  • Cambra de temperatura MDT (-192 a 1300°) amb rotació, motoritzada en Z, amb sistema de buit o gas inhert.
  • Òptica secundària amb buit per a mesures en mode SAXS
  • Portamostres per capil·lars amb rotació HUBER (geometria Debye-Scherrer)
  • Portamostres de baix fons de Si(510)
  • Portamostres estancs per mostres sensibles
  • Portamostres per transmissió (geometria Bragg-Brentano)

Programari

  • TOPAS 6.0
  • Diffrac.Suite 5.0
  • PDF-2 2018
  • Multex Area 3.0
  • GADDS
  • LEPTOS 7.0

APLICACIONS

MOSTRES A ANALITZAR

  • Anàlisi qualitatiu/quantitatiu de fases cristal·lines (mètode de Rietveld).
  • Cluster Analysis.
  • Quantificació d'amorfs i grau de cristal·linitat.
  • Mida dels cristallets (crystallite size) i microdeformació.
  • Estabilitat de fases cristal·lines amb la temperatura.
  • Determinació dels coeficients d'expansió tèrmica.
  • Estudia de cinètica de transformacions
  • Mesura d'esforços residuals.
  • Anàlisi de la textura d'un material.
  • Determinació de l'orientació de monocristalls.
  • Estudis de mosaicitat (rocking-curve)
  • Microdifracció (fins a 50 micres).
  • Obtenció de fotografies de Laue.
  • Anàlisi qualitativa de capes primes.
  • Determinació (indexació) i ajust dels paràmetres reticulars.
  • Determinació del gruix de capes primes (XRR).
  • Anàlisi de capes primes per incidència rasa (GIXRD).
  • Anàlisi a angles baixos (>0.5° 2θ) en 1 i 2D (SAXS).
  • Mostres sòlides (pols o bulk) orgàniques i inorgàniques
  • Membranes i filtres
  • Capil·lars i fibres
  • Mostres arqueològiques irregulars (màx 80x80x40mm)
  • Capes primes
  • Circuits elèctrics
  • Mostres sensibles a l'ambient
  • Monocristalls
Amb el suport de: