saltar al contingut principal
Cercar
URV

Microscopi electrònic de rastreig (SEM)


Descripció tècnica

El SEM es fonamenta en la interacció d'un feix primari d'electrons amb l'objecte que es pretén estudiar.

Es tracta d'un feix molt fi, intens i estable que, escanejant la superfície de la mostra, origina senyals diversos. Aquests senyals, convenientment tractats, ens permeten d'obtenir informació morfològica, estructural i microanalítica de la mostra en qüestió.

És una tècnica que no és destructiva i que té gran versatilitat en les aplicacions, tant en el camp de les ciències de materials com en el camp de les ciències biomèdiques, per a qualsevol partícula.

La imatge obtinguda és molt fàcil d'interpretar, ja que és una imatge en blanc i negre, i en volum; és similar al que nosaltres podríem veure si tinguéssim el poder de resolució de l’instrument, de 3,5 nm.

És una combinació d'un microscopi electrònic de rastreig equipat amb un espectròmetre de raigs X.

Prestacions

  • Estudis de morfologia i topografia en general, fins a resolucions de 4 nm, tant en el camp biomèdic com en el camp dels materials.
  • Obtenció d'imatges de composició (contrast Z o químic).
  • Microanàlisi elemental: permet conèixer els elements químics presents en les diferents parts d'una mostra, en un volum tan petit com un micròmetre cúbic. També permet veure la distribució d'aquests elements en la mostra i, en molts casos, quantificar-los.

Equipament

  • Microscopi electrònic de rastreig marca JEOL model JSM-6400