saltar al contingut principal
Cercar
URV

Microscopi de forces atòmiques (AFM)


Descripció tècnica

L'AFM és útil per elaborar amb facilitat mapes topogràfics en tres dimensions, de tot tipus de materials, amb resolució nanomètrica en el pla de la mostra i resolució atòmica en la direcció perpendicular a aquesta mostra.

Les mesures es poden fer en mode de contacte intermitent (tapping mode) i mode de contacte, amb la possibilitat de treballar amb aire o bé amb líquids (aquesta aplicació és important per a mostres biològiques). També es poden realitzar mesures de conductivitat elèctrica (acoblant una punta conductora) i mesures magnètiques.


El seu funcionament es basa en la detecció de les minúscules forces atòmiques o moleculars d'interacció entre una punta i la superfície del material.

Prestacions

  • Topografia de contacte.
  • Topografia de contacte intermitent (tapping) per a qualsevol tipus de material: aïllants, conductors, orgànics, etc.
  • Mesura de fase.
  • Mesures de fricció.
  • Mesura de força elèctrica.
  • Mesura de força magnètica.
  • Topografia en líquids (estudis dinàmics de mostres biològiques).

Equipament

  • Molecular Imaging model Pico SPM II (Pico+)