saltar al contingut principal
Cercar
URV

Microscopi electrònic de rastreig ambiental (ESEM)


Descripció tècnica

Amb els tres modes de pressió, que van des de 10-5 mbar fins a 26 mbar (2600 Pa), podem estudiar mostres conductores, no conductores i materials incompatibles amb el buit elevat, amb una resolució de 3 nm en tot els tres rangs de pressió. Juntament amb la platina Peltier de -20 ºC a 50 ºC permet fer estudis d’humitat.

També està equipat amb una platina Peltier fins a 1500 ºC, la qual cosa permet fer estudis de rampes de Tª, amb possibilitat de connexió de diferents gasos.

Amb el detector Wet STEM es poden mirar reixetes del TEM que necessitin mantenir la humitat en la mostra sense necessitat de fixació, deshidratració ni inclusió.

Prestacions

  • Estudis de morfologia i topografia en general, fins a resolucions de 4 nm, tant en el camp biomèdic com en el dels materials.
  • Obtenció d'imatges de composició (contrast Z o químic).
  • Microanàlisi elemental: permet conèixer, en un volum tan petit com un micròmetre cúbic, els elements químics presents en les diferents parts d'una mostra; també permet veure-n'hi la distribució i, en molts casos, quantificar-los.
  • Estudi de materials sotmesos a escalfament i refredament.
  • Wet-STEM.
  • Anàlisi de partícules.
  • Estructura d'aliments.
  • Contaminants.
  • Processos de corrosió.
  • Caracterització de recobriments i d'estructures metal·lúrgiques i ceràmiques.
  • Capes pictòriques.
  • Microelectrònica.
  • Aplicacions forenses.
  • Controls de qualitat.
  • Aplicacions biomèdiques: estudi de cultius cel·lulars, teixits i òrgans; etc.

Equipament

  • Microscòpia electrònica de rastreig de pressió variable i ambiental (ESEM) acoblat a la microanàlisi de Rx.