saltar al contingut principal
Cercar
URV

Difracció de raigs X de pols


Descripció tècnica

És una tècnica no destructiva per determinar com es compo- nen les fases presents en materials cristal·lins. Els raigs X difracten en els materials i produeixen difractogrames característics que actuen com a empremtes digitals. El difractograma reflecteix l’estructura cristal·lina del material. El difractograma s'interpreta amb l’ajuda d’una base de dades.

La tècnica s’utilitza per obtenir informació de l’estructura, la composició i l'estat dels materials policristal·lins. A banda de la identificació i quantificació de les fases cristal·lines, també s’utilitza en estudis amb temperatura variable, mesures dels paràmetres de cel·la, grau de cristal·linitat, càlcul d’esforços residuals, estudis de textures i ajustatge d’estructures.

Prestacions

  • Anàlisi qualitatiu/quantitatiu de compostos cristal·lins.
  • Grau de cristal·linitat.
  • Mida dels cristàl·lits (crystallite size).
  • Estabilitat de compostos cristal·lins segons la temperatura.
  • Mesura d'esforços residuals.
  • Anàlisi de la textura d'un material.
  • Anàlisi de mostres no planes.
  • Microdifracció (fins a 50 micres).
  • Obtenció de fotografies de Laue.
  • Anàlisi qualitativa de capes primes.
  • Determinació i ajustatge dels paràmetres reticulars (mètode de Rietveld).

Equipament

Bruker D8 Discover

Siemens EM-10110BU model D5000